пошук книг
книги
Підтримати
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Мій LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
VS Verlag für Sozialwissenschaften
Prof. Dr. Günther von Bünau
,
Dr. Klaus-Dieter Klöppel (auth.)
abb
sims
key
primarionen
sekundarionisierung
massenspektrometers
oberflache
sauerstoff
massenspektren
bzw
chemischen
elektronenstobionisierung
lonen
methan
ch3
chemischer
ergibt
fragmentierung
jeweils
landes
methoden
phenylalanin
uber
a.benninghoven
atomen
auflosung
fragmentionen
gegenwart
hoher
insbesondere
ionisierung
metalle
molekulen
oberflachen
sci
sekundarionenausbeute
sekundarionenspektrum
surface
verbindungen
verlag
westdeutscher
3ch
chemie
cm2
daher
eignet
erheblich
forschungsberichte
gasphase
hochauflosung
Рік:
1981
Мова:
german
Файл:
PDF, 1.70 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 1981
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×