Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
R. E. Honig (auth.), Professor Dr. Alfred Benninghoven, Dr. Richard J. Colton, Dr. David S. Simons, Dr. Helmut W. Werner (eds.)Категорії:
Рік:
1986
Видання:
1
Видавництво:
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Мова:
english
Сторінки:
564
ISBN 10:
3642827268
ISBN 13:
9783642827266
Серії:
Springer Series in Chemical Physics 44
Файл:
PDF, 14.85 MB
IPFS:
,
english, 1986
Скачування цієї книги недоступне за скаргою правовласника